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  • 蛍光X線膜厚計

高性能蛍光X線膜厚計 FT150 シリーズ

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蛍光X線を利用したメッキの厚み測定装置
新開発のX線集光用ポリキャピラリを搭載、各要素の最適化により検出感度を大きく高め、高スループットも実現しました。

カテゴリ
用途 プリント基板、チップ部品、コネクター等の電子部品の電気接続部のメッキの厚み測定

スペック

メーカ 株式会社日立ハイテクサイエンス
重量 160kg
寸法 W×D×H:930×900×710mm
製品仕様 [測定元素]
原子番号13 (Al)~92 (U)
[X線管]
管電圧:45kV
FT150:Moターゲット
FT150h:Wターゲット
FT150L:Moターゲット
[検出器]
Si半導体検出器(SDD)(液化窒素不要)
[X線集光]
ポリキャピラリ方式
[最大試料サイズ]
FT150:400(W) × 300(D) × 100(H)mm
FT150h:400(W) × 300(D) × 100(H)mm
FT150L:600(W) × 600(D) × 20(H)mm

製品資料はこちらからダウンロードいただけます。

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