Spotlight 150i ／ 200i

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品質の結果を誰でも簡単に、かつ、迅速に得られるように設計された最先端の赤外顕微鏡です。最新のソフトウェアと最先端のハードウェアの融合により、様々な測定に威力を発揮します。

カテゴリ	分析機器・装置分析装置顕微IRシステム
用途	環境、食品、材料確認試験、異物分析、不良解析、官能基の定性、表面処理、薄膜、ナノマテリアル、塗料、触媒、多層膜、確認試験、半導体、燃料電池、二次電池

メーカ	PerkinElmer Japan合同会社
重量	システム：45kg
寸法	装置：790(W)×470(H)×570(D) mm
製品仕様	［測定項目］透過率、吸光度、定性、定量、検索、ピーク比、比較、ラインスキャン（Spotlight 200i)、マッピング（Spotlight 200i) ［測定原理］物質に赤外光を照射し、透過または反射した光を測定することで、試料の構造解析や定量を行う分析手法［測定範囲］波数範囲：7800～600cm-1 　　　　　7800～400cm-1（広帯域オプション）透過、反射、ATR測定標準