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ミクロからミクロまで設定自由なイメージサイズで、高速かつ安定な IR イメージング測定を実現します。光軸を変更しない安定した、透過、反射、ATRのポイント測定、イメージング測定（3モード）を実現、サンプル面をアレイ検出器で高速スキャンし、赤外線領域の情報を2次元的イメージとして表現できます。

カテゴリ	分析機器・装置分析装置高速IRイメージングシステム
用途	環境、食品、材料確認試験、異物分析、不良解析、官能基の定性、表面処理、薄膜、ナノマテリアル、塗料、触媒、多層膜、確認試験、半導体、燃料電池、二次電池

メーカ	PerkinElmer Japan合同会社
重量	システム：66kg
寸法	装置：860(W)×470(H)×570(D) mm
製品仕様	［測定項目］透過率、吸光度、定性、定量、検索、ピーク比、比較、ラインスキャン、マッピング、イメージング［測定範囲］波数範囲：7800～650cm-1 透過、反射、ATR測定標準ピクセルサイズ選択可：50μm×50μm、25μm×25μｍ、6.25μm×6.25μm、1.56μm×1.56μｍ（ATRのみ）データ取得速度：約1.6秒　（100 µm × 100 µm 範囲　6.25 µm × 6.25 µm ピクセル）イメージングエリア：100 µm × 100 µm～50 mm × 50 mm 任意可変（透過、反射） ATRイメージングエリア：最大400 µm × 400 µm、 100 µm × 500 µm（標準クリスタル）