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株式会社北浜製作所

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  • 膜厚モニター(FE-300)

    大塚電子株式会社

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    小型・低価格・簡単操作の膜厚測定装置。光干渉法による解析、オールインワンタイプ、ミリサイズの測定スポット径で、非接触・非破壊測定が可能です。

    ・最大φ200mm試料の架設可能したサンプルステージを標準装備しました。
    ・裏面反射除去の光学系を採用したフィルム試料測定専用機を品揃えしています。
    ・1ポイント0.1秒からの膜厚測定。固定焦点のメリットで高速化を実現しました。
    ・薄膜・厚膜の試料に合わせて5機種10nm-1.5mmの膜厚範囲(nd)で対応
    ・多層膜等多様な膜種対応した解析法を内蔵しています。
    ・膜厚測定範囲(nd)は、3nm ~ 3.5μmの薄膜から厚膜をカバーしています。
    ・測定スポット径φ3mm(フィルム測定モードの場合: φ1μmスポット)での膜厚値が得られます。
    ・波長範囲:300 ~ 800nm内で2種類から最適な機種が選べます。

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  • ダイナミック光散乱光度計(DLS-8000)

    大塚電子株式会社

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    高分子・コロイド全般を対象に、“ゴニオメータ光学系”+”液浸バス”仕様の本格的光散乱光度計です。動的光散乱法による粒子径解析、静的光散乱法による分子量解析に最適です。

    測定角度を選べるゴニオメータ機構と屈折率差を除去する液浸バスから高精度に観測される散乱現象の情報から、
    (1) 動的光散乱法では、粒子などの粒子径、併進拡散係数や流体力学的半径Rh。
    (2) 静的光散乱法では、高分子希薄溶液の分子量(重量平均分子量)、慣性半径<Rg2>1/2(分子の広がり)や第二ビリアル係数A2(溶媒と溶質との相互作用のパラメータ)が溶液物性値として得ることができます。
    また、目的用途に最適なシステムの選択が可能です。例えば、
    (1) He-Neレーザーを搭載した標準タイプのほか、固体レーザーのダブルレーザー仕様タイプ(数ナノメーターオーダの超微粒子の粒子径を高精度に測定可能)
    (2) 160℃の温度下での測定を可能にした高温仕様タイプ(高温・高圧での高分子の特性解析を可能)など。その他、静的光散乱法による分子量解析に必要な示差屈折計(DRM-3000)も準備しております。

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  • ゼータ電位・粒径・分子量測定システム(ELSZ-2000 シリーズ)

    大塚電子株式会社

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    濃厚系~希薄系の幅広い濃度範囲でゼータ電位、粒子径、分子量を光散乱法で測定。コロイドの分散凝集性,相互作用,表面改質の評価に最適です。

    "8つの特長"プラス"1つの特長"を持つELSZ-2000シリーズを是非ともお試しください。
    (1)最新型高感度APDの採用、感度アップと時間短縮を実現しました。
    (2)自動温度グラジエント測定により変性・相転移温度解析が可能です。
    (3)内蔵された温調素子で0~90℃の範囲で測定がおこなえます。
    (4)広範囲な分子量測定および解析が可能となりました。
    (5)懸濁した高濃度サンプルの粒子径・ゼータ電位測定に対応した散乱光学系を採用しました。
    (6)セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定がおこなえます。
    (7)高塩濃度溶液のゼータ電位測定に対応した標準セルユニット採用しております。
    (8)平板状の表面電位測定可能な平板用セルユニットに加え、曲面を持つ試料に最適な小面積の平板用セルユニットを追加しました。
    (9)簡単操作ソフトウエアで測定・解析がおこなえます。

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  • 顕微分光膜厚計(OPTM series)

    大塚電子株式会社

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    豊富な膜厚膜質解析の経験ノウハウで、OPTM seriesが提供できる膜厚解析。光干渉法、顕微分光方式の膜厚値、高速フォーカス機能で1点1秒の測定が可能です。

    ・測定径最小φ5μmサイズでの顕微測光。狙った部位、パターン内の微小測定がおこなえます。
    ・高性能・高再現性を実現したレンズ・光学系を採用。高精度な絶対反射率測定から解析できる膜厚計です。
    ・3種類の測定波長範囲から選択できる検出器。極薄膜、色付き試料等の用途に最適な機種選択ができます。
    ・1ポイント1秒以内の高速膜厚測定を可能にしたオートフォーカス機能を標準装備しています。
    ・独自の光学系で裏面反射を除去。透明基板を高精度測定することが可能です。
    ・多層膜等の多様な膜種対応の解析法。しかも、測定・解析も楽々操作の対話形式でおこなえます。
    ・機種により異なりますが、1nm ~ 92μmの膜厚測定がおこなえます。
    ・対物レンズの選択によりφ5μm ~φ40μmのスポットで測定可能です。
    ・目的用途により、ストローク長200x250mmの自動XYステージタイプ、固定フレームタイプの選択が可能です。

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  • 窒素・タンパク質分析装置(rapid N exceed)

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    食品表示法やJAS等に準拠した改良デュマ法(燃焼法)による窒素・タンパク質分析装置です。キャリアガスに炭酸ガスを使用し、独自燃焼・還元技術と合わせて低ランニングコストを実現します。

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